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膜厚儀五種不同的校準方式
日期：2021-09-11 18:53
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摘要：
膜厚儀又名膜厚測試儀，分為手持式和臺式二種，手持式又有磁感應鍍層測厚儀，電渦流鍍層測厚儀，熒光X射線儀鍍層膜厚儀。手持式的磁感應原理時，利用從測頭經過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。
1、標準校準:適合平整光滑的表面和大致的測量。例如，低于一點校準精度要求的場合。
2、一點校準:置零，不用標準箔。用于允許誤差超過3%的場合。
3、二點校準:置零，用一片標準箔。用于誤差范圍在1-3%（*大）之間的測量。探頭誤差范圍應另考慮。
4、二點校準:置零，用二片標準箔。用于以下場合:①在粗糙表面測讀;②厚度在兩片箔厚之間的平滑表面的**測量。
5、透過厚度未知涂層的校準:用箔校準。如果被測樣本在校準時，沒有無涂層的用于比較的樣本，應當采用此法校準。
注意:校準箔是指所有的校準標準，包括2mm，5mm，10mm厚的標準板。
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